薄膜ELの絶縁破壞に対するITO電極エッジの影響
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概要
著者
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高原 和博
富士通株式会社
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岡元 謙次
(株)富士通厚木研究所表示デバイスー研
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高原 和博
(株)富士通研究所厚木研究所
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佐藤 精威
(株)富士通厚木研究所表示デバイスー研
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脇谷 雅行
(株)富士通厚木研究所表示デバイスー研
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三浦 照信
(株)富士通厚木研究所表示デバイスー研
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安藤 倭士
(株)富士通厚木研究所表示デバイスー研
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脇谷 雅行
(株)富士通研究所厚木研究所:表示デバイス研究部
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