103. X 線吸収過程における量子ゆらぎの伝播(画像工学 ノイズ特性)
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概要
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X線画像は被写体の持つ物理情報がX線の強弱像、エネルギー吸収像、発光像、写真像と順に形態を変えるめ、いずれかの情報伝達系でS/Nが悪くなれば最後までそのS/Nは引き継がれ、最終的に信号のゆらぎ幅に対応する濃度変化は情報量として意味を持たなくなる。鮮鋭な画像を要求する場合、評価する1画素の面積は小さく、同じX線強度でも画素当りに入射するX線光子数は少なくなる。現在のCRでは1画素当りX線入射光子数10^2〜10^5個で数値化されており、入射するX線光子自身の変動とX線吸収過程でのエネルギー付与量の変動が問題となる。ここでは増感紙とイメージングプレートでのX線吸収過程で起こる吸収エネルギーの変動をモンテカルロ法で求め、吸収過程のゆらぎが入射光子のゆらぎより大きくなることを実証した。
- 1994-08-01
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