X線による偽解像の幾何学的解釈
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概要
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In order to oftain a numerical value of resolving power, the parallel-line type or Siemens star test chart has probably been employed the most extensively. When these test charts use, spurious resoltion is observed. I explaine the reason of this spurious resolution by geometrical method.
- 公益社団法人日本放射線技術学会の論文
- 1967-10-31
著者
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