396. スミア法による汚染評価について(第2報) : 表面仕上げ材料及び汚染物質の違いによる拭き取り効率 : 被曝管理(RI)
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概要
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- 社団法人日本放射線技術学会の論文
- 1987-08-01
著者
-
久保 剛
大分医科大学医学部・ri実験施設
-
春田 隆昌
大分医科大学医学部附属病院・放射線部
-
船越 猛
大分医科大挙区掌部附属病院放射線部
-
梅崎 典良
久留米大挙区挙部放射性同位元素施設
-
船越 猛
大分医科大学医学部附属病院
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