C-2-28 ダイオード・リニアライザによる5次歪とCTBへの影響の検討
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2002-08-20
著者
-
木村 恒人
矢崎総業株式会社技術開発センター
-
田中 信吾
矢崎総業 技研
-
平山 誠
株式会社オプトウェーブ研究所
-
平山 誠
株式会社オプトウェーブ研究所 無線要素技術研究部
-
田中 信吾
株式会社オプトウェーブ研究所
-
田口 範高
株式会社オプトウェーブ研究所無線要素技術研究部
-
木村 恒人
株式会社オプトウェーブ研究所無線要素技術研究部
-
田口 範高
矢崎総業株式会社技術研究所
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