EBテストシステムにおける故障診断のためのCADレイアウトからの回路情報抽出

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概要

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最近の大規模化・高密度化したLSIのテスト効率を高める新しい技術として、CADリンク電子ビームテストシステムが注目されている。このテストシステムでは、CADデータベースのレイアウト、回路接続を示すネットリスト、回路図、及び実デバイスのレイアウトが相互にリンクされている。しかし、テストの実行に際してレイアウトデータだけしか入手できない場合がしばしば生じている。我々は先に、このような場合の故障診断手法として、CADレイアウトからの逐次回路抽出によるVLSI自動故障追跡法を提案した。このアルゴリズムでは、トランジスタレベルの回路データを逐次抽出しながら故障信号線の上流配線の故障追跡が行われる。この際、回路機能の認識が効率的な診断のために重要となる。本報告では、逐次回路抽出アルゴリズムを利用してCADレイアウトからSPICE形式の回路データとして抽出し、それからゲートレベルの回路データに自動変換する手法について報告する。
1994-09-26

論文 | ランダム

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