出力電流測定による故障検出手法の開発(LSIシステムの実装・モジュール化技術及びテスト技術,一般)

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概要

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ロジックICのファンクションテスト手法として、"出力電流測定法"を新たに考案した。この方法では、出力端子に接続された負荷抵抗を流れる電流値の総和が出力信号のHi/Loの数に応じて変化することに着目し、この電流値を良品の期待値と比較することによって、故障の検出を行う。本手法では、DUTの出力各ピンにコンパレータを接続する必要がないために、一般的なロジックLSIテスタを使用することなく、比較的簡易なシステムによって測定を行うことができるメリットがある。実験として、出力期待値パターンを作製することが困難であったデータ圧縮機能LSIに対して、本測定手法を用いて良品との動作比較によるファンクションテストを行い、故障が検出されることを確認した。
社団法人電子情報通信学会の論文
2004-01-29

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