プロセス変動に起因した回路特性変動のワーストケース解析手法
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概要
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高品質なLSI設計を実現する上で、ロバスト回路設計手法の必要性が高まっている。スペックに対してマージンのある回路設計を実現する為には、回路設計段階においてプロセス変動の影響を考慮し、プロセス変動に起因する回路特性変動を高精度に予測する必要がある。回路特性変動の高精度な予測方法として、従来から回路シミュレータによるモンテカルロ解析が用いられている。しかし対象とする回路規模が大規模の場合、従来型あるいはRSMによるモンテカルロ解析は時間効率の面で非実用的である。そのためワーストケース解析により、回路特性変動の上下限値(Worst/Best)を求める必要が生じる。ここではTCADベースの高速かつ高精度なワーストケース解析手法を提示する。
- 2000-09-14