電磁界解析を用いた放射電磁雑音に対する電子機器の不要動作に関する検討(回路EMC/一般)
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概要
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電子機器では、放射電磁雑音に対するイミュニティが重要な課題になっており、IEC61000-4-3で試験方法が定められている。本報告では、実測から得られるASICの内部インピーダンスとイミュニティ特性を考慮する電磁界解析を用いて、放射電磁雑音に対する電子機器の不要動作を検討した。本解析手法による結果はIEC61000-4-3に準拠しておこなった実測結果と比較検証して妥当であることを示した。また、本解析手法を用いて信号検出ASICと並列に実装されたキャパシタにより、特定の周波数で共振現象が発生しイミュニティが劣化することを示した。さらにキャパシタを挿入することによりイミュニティが改善できることを示した。
- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 2005-07-22
著者
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