Ni薄膜の電流通電時の熱ストレス測定評価へのホログラフィの応用
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
近年のマイクロエレクトロニクスの発展に伴って、薄膜の応用は不可欠となっている。これに伴って、薄膜の機械的特性、ならびに、熱ストレス解析は重要な課題となっている。本研究では、Niの薄膜に電流を通電し、その時発生したジュール熱の影響に伴う熱ストレス測定評価にホログラフィを応用し、薄膜のパターンとの相関について実験的に比較検討し、その特徴の一部を明らかにした。
- 1993-12-17
論文 | ランダム
- エコツーリズムにおける自然資源管理の制度に関する研究--小笠原を事例として
- 途上国に於ける日本農村女性起業活動の応用の可能性--パラオのエコツーリズム開発の事例
- シレトコ世界自然遺産へのアイヌ民族の参画と研究者の役割--先住民族ガヴァナンスからみた世界遺産 (特集・小特集 世界遺産)
- エコツーリズムにおけるウォーキングの位置づけ
- エコツーリズム推進地域屋久島における来訪者の資質と課題