摺動による接触抵抗上昇のメカニズムの解明 : 低加速電圧SEMによる微量有機物の分析技術
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概要
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有害物質であるフロンの全廃の動きに伴い、弊社においても代替洗浄法を確立し、リレーの洗浄を行っている。さらに現在、接点の洗浄を廃止するために、清浄な状態を保持する技術の検討を行っている。この検討の中で未洗浄の接点を用いたリレーは、初期の接点開閉で接触抵抗が上昇する現象を確認している。そこで、低加速電圧でのSEM (走査電子顕微鏡) の2次電子像により接点表面を観察し、原因の調査を行った。その結果、接点上の接触部分に有機物が集中して付着していることが確認され、接点の開閉、摺動動作が接触抵抗の上昇と大きく関係していることがわかった。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-11-21