CV測定による高分子分散型液晶パネルのヒステリシス評価
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概要
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近年、高精細でかつ大画面化が可能なリアプロジェクションテレビに対する需要が高まってきており、今後も大きな成長が期待できる。その一方で表示性能に対する要求も厳しさを増しており、特に高輝度化対する要望が強い。我々は、次世代の高輝度りリアプロジェクションテレビを目標に、光利用効率が高く、高輝度化が可能な高分子分散型液晶パネル(以下、PDLCパネル)の開発に取り組んでいる。PDLCパネルで発生するヒステリシスは、階調表示不良の原因となっており、実用化にはヒステリシス低減が必須である。我々は、CV(電圧-静電容量)測定によるヒステリシス評価法を新たに開発し、低ヒステリシス化の指針を得たので報告する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1999-06-24
著者
-
中尾 健次
東芝モバイルディスプレイ株式会社 デバイス開発センター
-
上村 強
松下電器産業(株)
-
中尾 健次
松下電器産業(株)
-
久保田 浩史
松下電器産業(株)ディスプレイデバイス開発センター 液晶開発グループ
-
中尾 健次
阪大・工
-
中尾 健次
松下電気産業(株)ディスプレイディバイス開発センター
-
西山 誠司
松下電器産業(株)
-
山本 雅夫
松下電器産業(株)ディスプレイデバイス開発センター 液晶開発グループ
-
古佐小 慎也
松下電器産業(株)ディスプレイデバイス開発センター 液晶開発グループ
-
西山 誠司
松下電器産業(株)ディスプレイデバイス開発センター 液晶開発グループ
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