C-12-51 メッシュサイズ不連続面を含む半導体基板モデルの解析誤差

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概要

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• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 2002-03-07

著者

• 野中 淳平

  日本電気株式会社評価技術開発本部

• 青山 新太郎

  日本電気株式会社第1システムLSI事業部

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