高速インタフェース及び回路を内蔵する高集積LSIの動作検証に関する一検討
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概要
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近年CMOSプロセスの微細加工技術の発展に伴い非常に大規模で高速なLSIが実現可能となり、また一方LSICADの進展で、論理設計者がレイアウト作業まで行なえるようになってきた。しかしながら、このようなLSIの動作検証には、大規模化による配線長や微細加工による抵抗分の増大により、論理設計者が行なう従来からの容量分による遅延換算だけの検証CADツールでは、十分なシミュレーションが困難になりつつある。本稿では、レイアウト作業までを含んだ動作検証を論理回路設計者がいかに行なえばよいのかを、高速IOインタフェース及び回路をもった大規模CMOSLSIの開発を通して試行した動作検証方法について、評価、検討を行なったので報告する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1995-03-27