高速出力バッファにおける出力抵抗の高精度DCテスト手法

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概要

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• 1998-03-06

著者

• 浅井 幹生

  三菱電機(株)ULSI開発研究所

• 井上 豊

  三菱電機エンジニアリング(株)LSI設計センター

• 高木 亮一

  三菱電機(株)ULSI開発研究所

• 真金 光雄

  システムLSI事業統括部

• 川畑 英雄

  三菱電機(株)ULSI開発研究所

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