TD-2-1 テスト容易化設計の現状と課題 : スキャン技術, テストバス技術

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概要

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• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 2001-03-07

著者

• 牛久保 政憲

  沖電気工業

• 牛久保 政憲

  沖電気工業(株)sisclsi事業部設計システム部

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