エッジ効果を考慮した共振器法による誘電体基板の特性の測定について
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
超伝導体薄膜,厚膜をアンテナなどの高周波デバイスに応用する際,使用する基板の特性を明らかにする必要がある.これまでに基板の複素誘電率を測定した報告はあるが,この方法では誘電体損を求める際にマイクロストリップ線路共振器(以下MSL共振器)の開放端でのエッジ効果を考慮してない.そこで本論文では変分法を用いて共振器の開放端でのエッジ効果を考慮して複素誘電率を実験から求め,理論式の妥当性を示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1996-03-11