ニューラルネットによるはんだ外観検査
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概要
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半導体部品のリード面に溶融メッキされたはんだの外観検査にニューラルネットを応用した手法を示す.まず同軸照明下で真上からのCCDカメラを使ってはんだ面を撮影する.次に,得られた画像からパターンの特徴と輝度分布とを抽出する.これらのデータをニューラルネットに入力し,その出力値からはんだの良否判定を行う.この手法ははんだバンプ検査において有効性が示されたものであるが,本論文ではリード面のはんだ検査にも本手法が適用できることを実験によって検証する.リード面のはんだははんだバンプに比べると厚みがなく画像が変動しやすい.このため,リード面のはんだ検査という問題に合った特徴量と画像分割条件の決定が実験の中心となる.いく通りかの比較実験を通してこれらを決定した結果,不良179個を含む508個のサンプルについて,不良品認識率100%,良品認識率95.7%(いずれも目視検査との一致率)という結果を得ることができた.
- 1995-04-25