半導体の信号ピンから見た入力インピーダンス
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概要
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現在、電子機器の生産工程に於いて、最大の問題はノイズ対策、その中でも、不要輻射対策である。それに対応するため、いろいろな工夫がなされているが、一番、対策に必要な半導体の入力インピーダンスについてのデータが、不足している。今回、ネットワークアナライザによる実測データを発表すると共に、このような実測データをIBISモデルとして使用することを提案するものである。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2001-07-06
著者
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