微小領域におけるノイズセンシング技術の研究
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概要
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電子機器の普及とともにEMC仕様を高いレベルでクリアする必要がある。EMC対策は、発生側の原因を除去することが最も確実な手法である。本報告では、基板から幅射する電磁波を微小領域でとらえて、分布状態と発生源を特定することができるシステムを開発したので紹介する。このシステムの特徴は、プローブを自在に駆動するため、高い分解能を得ることができる。また、基板の実映像をスーパーインポーズするため、発生部位の特定が容易である。この装置を用いて、実際に試作した基板の対策例について述べる。電磁波を可視化することによる、従来のノイズ対策作業を具体化し改善することが期待できる。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1994-06-03
著者
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