誘電体被覆回折格子を利用したFEM不安定性の数値解析
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概要
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誘電体で被覆した正弦波状の完全導体回折格子の上を伝搬する相対論的電子ビームによる2次元的な電磁放射の問題を解析している.この構造においては,3種類の電磁放射が存在する.スミス・パーセル放射の漏洩係数とスミス・パーセル型FEM不安定性の不安定性増大率は、完全導体回折格子のそれと比較して大きくなり,特に漏洩係数は,周波数選択幅が広くなる.また,チェレンコフ不安定性増大率は,平行平板誘導電体のそれと比較してあまり変わらないことを明らかにしている.さらに,電子ビームの速度を変化させた場合,異なる2つの不安定性が結合し,その近傍で不安定性増大率の急激な変化が生じることを明らかにしている.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1993-11-19
著者
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