相変化光ディスクの488nmでの録再特性
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概要
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相変化光ディスクは、これまで光源を830mmから488nmへ短波長化するとビーム径が絞られることにより消去特性が稼げなくなる(消去比が低い、消去マージンが狭い)問題が指摘されてきた。今回、超急冷構造(上誘電体保護層膜厚0-10nm)ランド記録での波長488nmにおける繰り返しオーバーライトを試みたが、繰り返し回数が増加するにつれて消去特性が低下することが確認された。そこで、位相差を利用したグルーブ記録においてGe_2Sb_2Te_5記録層のディスクで層構成を最適化したところ、1万回オーバーライト後も消去比の低下が見られなかった。相変化媒体の短波長域における利用の可能性を示すことができた。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-03-07
著者
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信國 奈津子
三菱化学株式会社 横浜総合研究所 光情報研究所
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大野 孝志
三菱化学株式会社横浜総合研究所光情報研究所
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高田 健一
三菱化学株式会社横浜総合研究所光情報研究所
-
堀江 通和
三菱化学株式会社横浜総合研究所光情報研究所
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高田 健一
三菱化学株式会社 横浜総合研究所 光情報研究所
-
堀江 通和
三菱化学株式会社 横浜総合研究所 光情報研究所
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大野 孝志
三菱化学株式会社横浜情報電子研究センター
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