低レーリ散乱多成分酸化物ガラス光ファイバ
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概要
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アルカリ金属を含む多成分酸化物ガラスのレーリ散乱のガラス組成依存性について実験的な検討を行った。K_2O-MgO-SiO_2(KMS)、Na_2O-B_2O_3-SiO_2(NBS), K_2O-Na_2O-MgO-SiO_2(KNMS)のレーリ散乱係数はVAD法で作製した純石英ガラスよりも小さく、特にKNMSガラスでは、純石英ガラスの38%という顕著に低い値が得られた。これは組成揺らぎが混合アルカリ効果によって抑制されたためと考えられる。一方、低レーリ散乱のNa_2O-Al_2O_3-SiO_2(NAS)ガラスを用い、二重るつぼ法によってOH基不純物をOD基(重水)で置換した光ファイバを作製した。本方法によって、波長1.55μmにおいて約800dB/kmの損失低減効果も得られた。また、多成分酸化物ガラス光ファイバでは、非架橋酸素と水素結合したOH基の吸収損失が1.55μm帯の損失の増加に大きく影響を及ぼしていることを明らかにした。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2000-11-14
著者
-
大橋 正治
大阪府立大学大学院工学研究科
-
辻川 恭三
日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所
-
大橋 正治
NTTアクセス網研究所
-
田嶋 克介
NTTアクセス網研究所
-
辻川 恭三
NTTアクセス網研究所
-
大橋 正治
Nttアクセスサービスシステム研究所ニュービジネス推進p海外事業展開g
-
辻川 恭三
Nttアクセスサービスシステム研究所
-
田嶋 克介
NTTアクセスサービスシステム研究所
-
大橋 正治
NTTアクセスサービスシステム研究所
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