パラレルGLFSRを用いた自己組み込みテストにおける故障検出率の向上に関する研究(グラフ,ペトリ,ニューラルネット,及び一般)

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概要

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本稿では、自己組み込みテスト(BIST)のテスト発生回路(TPG)に並列汎用線形フィードバックシフトレジスタ(パラレルGLFSR)を提案する。従来のTPGである線形フィードバックシフトレジスタ(LFSR)、GLFSRとTPGとして提案する並列GLFSRをISCASベンチマーク回路に適用した場合の故障検出率をそれぞれ比較する。提案手法のTPG構成、シミュレーション方法を述べる。また、提案TPGが同じテスト数において、より高い故障検出率を得たことからBISTのTPGとして有効であることを考察する。
2003-10-31

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