国際会議報告 : International Test Conferenceに見るテスト技術の動向(LSIシステムの実装・モジュール化技術及びテスト技術,一般)
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概要
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ITC(International Test Conference)は世界最大のテスト技術の国際会議である。毎年100件を超える論文発表があり1000名以上が参加する。このITC関して,昨年10月に開催されたITC2003の概要を紹介するとともに,ロジックテスト分野をメインに,一昨年のITC2002の発表論文と比較することによりテスト技術の研究開発動向を概観する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2004-01-29
著者
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