インサーキットテストサポートCAD
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概要
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プリント基板へと搭載する部品単体の高密度化、それに伴うプリント基板全体の論理回路の大規模化、複雑化によりプリント基板の故障検査は年々難しくなっている。このため、この様な基板に対してはテスト方法の簡単なインサーキットテスト方式を採用している。本報告はこのインサーキットテスタによるプリント基板の動作テストを行なうためのCADによるサポート方法についてのものでありフィクスチャの共用、プリント基板の論理変更、流用設計、LSIテストパターン生成を自動で行なう方法について述べる。
- 1989-10-16