複数ボード間のスキャンテストシステム

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概要

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近年の計算機システムは、機能・性能の高度化に伴って、実装密度はより高〈、ボード上のパターンもいっそう複雑化している。このため、ボードのパターン切れやショート、コネクタの不良などの、初期故障に対する不良箇所の特定が難しくなってきている。特に制御分野で使用されるシステムでは、きめ細かなサポートが要求されるので、故障解析の難しさは、そのまま製品のコストアップにつながる。そこで、ボードの故障箇所を効率的に見つける手段として、バウンダリスキャンが注目される。本論では、高度産業用コンピュータVL2000シリーズで採用している、バウンダリスキャンを応用したテストシステムについて紹介する。
一般社団法人情報処理学会の論文
1994-09-20

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