汎用プロセッサの性能試験方法の検討
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概要
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プロセッサの性能試験の方法として、典型的なプログラム走行によるベンチマーク試験と、性能を決定づける要素をプログラムによって個々に測定し、その積み上げによって平均命令実行時間を求める方法がある。特に後者の方法は、各要素が性能に与える影響を明確にすることから、ハードウェア、ファームウェアの設計評価のための有効な手段となる。しかし、大型プロセッサのように高速化のための多数の機構を有している場合、後者の測定を正確に行うためには、他の機構の影響をすべて排除した上で、特定要素の測定を行う必要があり、ハードウェア構造に対応して異なる方法を用いなければならない。本稿では、最近の汎用大型プロセッサのハードウェア構造に注目し、後者の性能拭験を実施するための各要素の測定方法を提案する。
- 一般社団法人情報処理学会の論文
- 1986-10-01