Cr_<70>Al_<30>/Fe_<19>Ni_<81> 2層膜における交換結合磁場と結晶粒径
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概要
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The exchange-coupling mechanism of Cr_<70>Al_<30>/Fe_<19>Ni_<81> bilayer films was investigated in terms of the crystallo-graphic orientation, interface roughness, and grain size. The exchange-coupling field H_<ex> appears when the Cr_<70>Al_<30> layer is thick enough to accommodate the one-dimensional antiferromagnetic domain wall. The value of H_<ex> decreases with an increase in the degree of the <110> orientations associated with the grain growth, but increases with increasing the interface roughness. These results can be qualitatively explained by considering the exchange-coupling field evaluated from the random field approximation.
- 社団法人日本磁気学会の論文
- 1997-05-01
著者
-
大谷 義近
東北大学大学院工学研究科
-
島田 寛
東北大学科学計測研究所 磁気機能計測研究分野
-
越後谷 淳一
岩手大
-
深道 和明
東北大学工学部材料物性学科
-
北上 修
東北大学科学計測研究所
-
越後谷 淳一
岩手大学工学部附属金属材料保全工学研究センター
-
大谷 義近
東北大学工学部材料物性学科
-
宇山 浩子
アルプス電気(株)
-
越後谷 淳一
岩手大学工学部マテリアル工学科
-
越後谷 淳一
岩手大 工
-
宇山 浩子
東北大学工学部
-
島田 寛
東北大学科学計測研究所
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