半導体試験・測定システム : 平成15年度特許出願技術動向調査(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
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概要
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価格競争力を支える半導体試験・測定システムを中心とした技術開発戦略や産業財産戦略をグローバルな視点から検討することの重要性はきわめて高い。半導体試験・測定システムに関し、特許情報を中心に、市場動向、技術開発動向、国際競争力、将来展望について、調査分析を実施した。その調査結果について報告を行う。
- 一般社団法人情報処理学会の論文
- 2004-12-01