単電子論理回路の故障モード解析(VLSIの設計/検証/テスト及び一般テスト)
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概要
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単電子トンネルトランジスタを用いた論理目路について,構成要素に欠陥が発生した時に,現れる故障について調べた.故障析はモンテカルロ法を用いた回路シミュレーションを用いた.その結果,コンデンサの静電容量が過少である時は従来のCMOS論理回路で仮定されている縮退故障と同様の故障が発生することが分かった.また,コンデンサの容量が過大である時は, CMOS論理回路では見られない出力論理値の片方だけが不定となる故障が発生する可能性があることが示された.これより単電子目路の論理故障では新しい故障モデルが必要であることが示された.
- 一般社団法人情報処理学会の論文
- 2003-11-27
著者
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