〔482〕半導体の光弾性効果測定の赤外偏光装置, A.V. Appel,H.T. Betz,& D.A. Pontarelli,Applied Optics,1965-11,Vol. 4,No. 11,p. 1475〜1478,図7

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概要

社団法人日本機械学会 | 論文

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