写真式X線応力測定装置

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概要

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• In this paper is described the X-ray stress camera specially designed for stress measurement by a photographic method. This apparatus may be used by either grocker's method. Schaals Method or sin^2φ method. We tried to record a diffraction pattern in a short time's exposure, using a specially designed short anode X-ray tube, with reduced distance between the object and the focus. The microphotometer, the film puncher and the electro polisher are also developed in consequence.

• 社団法人日本材料学会の論文
• 1963-12-15

著者

• 岸 敬

  東芝玉川工場

• 永見 初太郎

  東芝玉川工場

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