332 シリコン単結晶の高ひずみ状態における Tight-binding 法の信頼性

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概要

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• 社団法人日本材料学会の論文

著者

• 松井 英史

  (株)松下電器産業

• 松井 英史

  京都大学院

• 梅野 宜崇

  京都大学院

• 北村 隆行

  京都大学院

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