Drift Tube Mass Spectrometry (III) : イオン分子反応 : 原子分子
スポンサーリンク
概要
著者
関連論文
-
電子衝撃によるSr^+及びSr^のthreshold附近のイオン化能率曲線 : 原子分子
-
電子衝撃による金属原子のイオン化(I) : 原子分子
-
3a-TD-4 Drif Tube Mass Spectrometry(IV)
-
Drift Tube Mass Spectrometry (III) : イオン分子反応 : 原子分子
-
Drift Tube Mass Spectrometry (II) : 電荷移動反応 : 原子分子
-
Drift Tube Mass Spectrometry (I) : He中のイオンのMobility : 原子分子
-
Long Life-Highly Excited Argon Ion.
-
水素のタングステンへの化学吸着 : 表面物理, 薄膜
-
2p-E-11 Cs+NO_2→Cs^++NO_2^-の実験
-
14p-P-10 いわゆる原子イオンのCharge Strippingについて
-
金属原子の全イオン化断面積の絶対測定 : 原子分子
-
電子衝撃による1価イオンの2重イオン化 : 複式質量分析計による : 原子分子
-
原子分子(実験)(昭和39年度における各専門分野研究活動の展望)
-
Charles A. McDowell 編: Mass Spectrometry McGraw-Hill Book Company, 1963, 639頁, 16×23.5cm, 8,000円.
-
電子衝撃による原子の2重イオン化(原子分子)
-
5p-P-4 電子衝撃によるプロパン及びn-ブタンの電離解離の反応速度論的考察。
-
5p-P-3 電子衝撃による原子分子の電離断面積(I)
-
Reed, R. I.: Ion Production by Electron Impact, Academic Press, London and New York, 1962, 242頁, \2,700.
-
原子衝突の実験(原子衝突論特集)
-
電子衝撃によるthresholod附近のイオン化能率曲線(II) : IX. 原子分子
-
28a-S-5 極低温ヘリウムガス中の希ガスイオンの移動度の測定
-
2a-SA-4 Kr^+と2原子分子のイオン分光(IELS)
-
30a-J-10 10meVから10eVにおけるAr^+(^2P_,^2P_)+N_2 電荷移行反応断面積の測定
-
2a-SA-7 ビームガイド法による低エネルギー(0.1-1000 eV)イオン衝突実験 : 希ガス2, 3価イオンの電荷移行
-
2a-SA-1 窒素温度付近でのAr^+-N_2 電荷移行反応の研究
-
1a-B-9 低エネルギー多価イオンの電荷移行反応の研究 : 1. イオンビームガイド法
-
6a-F-2 電子衝撃によるthreshold附近のイオン化曲線
-
アルパ-トゲージによる気体の選択吸着(質量分析計にようる研究) : VIII. 真空
-
18H-2 電子衝撃によるフオルムアルデヒドの電離解離について
-
18H-1 電子衝撃によるエーテルの電離解離について
-
4B2 H_3^+の生成について
-
15B17 A^+_2の生成について
-
4B3 水素分子のイオン化に於ける見掛質量1/2のイオン生成について : 質量分析計による研究
もっと見る
閉じる
スポンサーリンク