低比抵抗半導体のマイクロ波特性の測定 : 半導体 : 輸送

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 1965-10-10

著者

• 片岡 照栄

  電試・田無

• 藤定 広幸

  電試

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