2F8 Ge中のminority carrier の寿命測定にlight injection 法

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 社団法人日本物理学会の論文
• 1954-11-02

著者

• 町田 純一

  川崎市東京芝浦電気株式会社マツダ研

関連論文

• 2F8 Ge中のminority carrier の寿命測定にlight injection 法

スポンサーリンク