30p-L-5 Dielectronic Recombination Measurements on Highly Charged Ions Produced Using an Electron Beam Ion Trap.

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 社団法人日本物理学会の論文
• 1998-03-10

著者

• Sokell E.

  Uni Of Electro-communications

関連論文

• 30p-L-5 Dielectronic Recombination Measurements on Highly Charged Ions Produced Using an Electron Beam Ion Trap.

スポンサーリンク