27a-ZD-12 Structural Study of Si/B(√3 x √3)R30^./Ge_xSi_<1-x>(111) by Anomalous X-Ray Diffraction and XAFS

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 1991-09-12

著者

• Tweet D.j.

  Nec Fundamental Research Laboratories

• Bouldin C.e.

  Nist

• Sorensen L.b.

  University Of Washington

• Akimoto K.

  NEC Fundamental Research Laboratories

• Hirosawa I.

  NEC Fundamental Research Laboratories

• Tatsumi T.

  NEC Fundamental Research Laboratories

• Mizuki J.

  NEC Fundamental Research Laboratories

• Matsushita T.

  KEK

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