29p-K-14 中性子照射したSiの陽電子寿命測定
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人日本物理学会の論文
- 1991-09-12
著者
-
岩田 忠男
原研東海
-
岩田 忠夫
原研東海
-
Li Anli
中国原子能研
-
Zheng Shengnan
中国原子能研
-
Huang Hanchen
中国原子能研
-
Li Donghong
中国原子能研
-
Du Huengshan
中国原子能研
-
Zhu Shengyun
中国原子能研
-
岩田 忠夫
原研 東海研
関連論文
- 28a-T-11 C_/C_、HOPG、ガラス状炭素中の陽電子消滅
- 28a-ZP-3 C60/C70, HOPG等の炭素材料中の陽電子消滅
- 25a-T-5 黒鉛中原子空孔クラスターの陽電子消滅(II) : 実験
- 26pC-1 熱分解黒船の負の磁気抵抗と電子線低温照射効果
- 29p-K-14 中性子照射したSiの陽電子寿命測定
- A Positron Lifetime Study of Defects in Neutron-Irradiated Si