30p-M-10 窒素薄板を含んだダイヤモンドの電子線回折像におけるスパイク反射
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人日本物理学会の論文
- 1982-03-15
著者
関連論文
- 7a-P-10 Centre-Cross DiamondのX線散漫散乱
- 1p-T-10 モアレ像を利用した板状欠陥によるダイヤモンド格子変位の測定
- 14a-Q-9 電子線照射による二次欠陥生成に及ぼす固溶原子半径の影響
- 14a-Q-8 電子線照射における一次欠陥生成頻度と二次欠陥
- 5p-KM-4 電子線による格子欠陥生成の回折条件依存性
- 5p-KE-1 重金属における異常透過の電圧依存性
- 5a-KH-3 電子線コメント
- 3a-G-9 3MV電顕による電子線照射損傷の電圧依存性
- 3p-B-6 3MV電顕による2,3の金属での電子の異常透過現象
- 27p-N-11 PLATELET INTERACTION ANALYSIS BY LACBED
- 3a-A3-2 ダイヤモンド中の薄板の濃度と赤外線吸収スペクトル
- 30p-M-10 窒素薄板を含んだダイヤモンドの電子線回折像におけるスパイク反射
- 1a-M2-6 ダイヤモンド中のボイダイドの結晶相(格子欠陥)