BaTiO_3 単結晶薄膜の電子光学的研究 III : 誘電体
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人日本物理学会の論文
- 1962-10-20
著者
関連論文
- 31p-H-10 Sr_2Ta_2O_7-Sr_2Nb_2O_7系固溶体の相転移の電顕観察
- 液体ヘリウム温度電子顕微鏡試料ホルダーの試作 : X線, 粒子線
- 3a-G-12 (SnGe)Te系合金の研究
- 13p-Q-1 チタン酸バリウムの電子工学的研究V
- 6a-H-8 チタン酸バリウムの蒸着薄膜
- チタン酸バリウム系単結晶薄膜の電子光学的研究 : X線・粒子線
- 29p-A-10 コンピュータ・シミュレーションによる収束電子回折図形の対称性の研究
- 29p-A-9 収束電子回折図形のシミュレーション
- 4a-B-1 収束電子回折法によるMnSiの左右晶の判断
- 4p-KE-6 二,三の物質の等厚一等傾角干渉稿による電子線の透過の研究
- 5p-G-1 CdS単結晶の等厚干渉縞
- 4a-F-6 収束電子回折法によるNbS_3の点群・空間群の決定
- 6a-B5-2 収束電子回折によるMO_8O_幻の不整合相の研究
- 固体硫化水素の低温変態の研究I : X. 電子線・X線
- 5a-NB-2 収束電子回折法によるLa_2Ti_2O_7の点群決定
- 固体硫化水素の相転移(誘電体)
- 固体硫化水素の相転移 : X線・粒子線
- 固体アンモニア構造の電子回折法による研究 : X線電子線
- 制限視野回折を目的とした電子顕微鏡試料装置 : X. 電子線・X線
- 3p-B-4 二次反射消滅法によるBaTiO_3の低次結晶構造因子の決定
- 26p-E-1 収束電子回折による準結晶の構造の研究 IV
- 29p-A-8 入射電子線に垂直な映進面による動力学的消滅則
- BaTiO_3 単結晶薄膜の電子光学的研究 III : 誘電体
- 電子回折のStreak Pattern IV 強度 : X線・粒子線
- 電子回折のStreak Pattern III Geometry : X線・粒子線
- 14a-P-5 BaTiO_3単結晶薄膜の電子光学的研究
- 13p-P-7 ゲルマニウムの異常回折効果
- チタン酸バリウム薄膜の構造 : 誘電体
- 11a-P-11 200KV電子回折装置
- 15M-2 NaF結晶の電子回折強度
- 電子回折強度の加速電圧及び温度による変化 : 電子線回折による結晶構造の解析
- 3a-NR-10 Si,Geの低次結晶構造因子の測定(収束電子線回折法)
- 31a-N-7 Geの結晶構造因子F(311)の測定II : 収束電子線回折法
- 2a GK-8 BRTEM法によるC.B.E.D.像の画像処理
- 3a-N-7 収束電子回折法による積層欠陥の観察
- 4a-F-7 収束電子回折法によるTaS_3の空間群の決定
- 電子顕微鏡の試料加熱及び冷却装置 : X. 電子線・X線
- 31a-T-4 EELS用ウィーンフィルターの電子軌道解析
- 31a-T-3 ウィーンフィルターを用いた高分解能エネルギー分析電子顕微鏡 II
- 5a-O-7 PbOの電子光学的研究
- 6p-T-4 ウィーンフィルターを用いた高分解能エネルギー分析電子顕微鏡
- 26a-O-4 ウィーンフィルターを用いた高分解能エネルギー分析電子顕微鏡 I
- 4a-G-13 電顕内蒸着の直接観察
- CdS単結晶薄膜の等厚干渉縞 : X線粒子線
- 8a-K-10 非中心対稱結晶の電子顕微鏡像
- 7a-P-6 BaTiO_3の電子光学的研究 IV
- 4a-A-15 Geの原子散乱因子f_とf_の値(収束電子線回折法)
- 4p-KE-5 Geの構造因子f_とf_の値について
- 4p-KE-4 Critical voltage法によるSiの低次構造因子の決定
- 3a-N-5 収束電子回折による正20面体対称をもつ準結晶の構造の研究
- タイトル無し
- 14G-13 結晶,非結晶研究用の電子回析セクターカメラの製作(X線,電子線)
- タイトル無し
- 31a-K3-9 収束電子回折による準結晶Al_Cu_Fe_の構造の研究(金属)
- 29p-LJ-6 収束電子回折によるSrTiO_3の低温相の空間群の研究III(誘電体)
- 29p-BE-9 収束電子回折によるSrTiO_3の低温相の空間群の研究II(29p BE 誘電体)
- タイトル無し