Effect of Structural Reconstruction of the Ge(111) and Ge(100) Surface on the Auger-Type Electron Ejection by Slow Ions : 半導体(表面, 理論)

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 1964-04-06

著者

• Takeishi Y.

  Bell Telephone Laboratories

• Hagstrum H.

  Bell Telephone Laboratories

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