Line profileのFouvier解析(特にgraphiteの(00,l)反射について) : X線電子線
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人日本物理学会の論文
- 1960-10-21
著者
関連論文
- 3p-DQ-5 中性子照射したNbOのイオンチャネリング
- 6a-L-6 中性子分光によるテフロンの格子振動
- 8p-K-8 ウラン化合物の中性子線回折-I VF_4の結晶構造
- 5p-D-5 NbOのチャンネリング
- 6a-P-8 中性子照射したNbO結晶のイオンチャネリング
- 6a-P-5 フラックス・ピーキング現象の侵入原子濃度および深さ依存性
- 13a-T-1 表面弾性波による中性子回折強度の変化
- 1a-U-4 中性子回折トポグラフィによるCu-14%N_I単結晶の観察
- 2p-M-5 銅合金 (ブリッジマン法) の中性子トポグラフィ観察 (その3)
- 3a GD-2 中性子トポグラフィによる大型合金単結晶のCharacterization
- 5p-BK-1 銅合金(ブリッジマン法)の中性子トポグラフィ観察
- 31a-BA-3 Cu-5%Ge単結晶の{100} : 周期構造の中性子回折トポグラフィ観察
- 6a-KE-2 超高圧電子顕微鏡による透過電子線のエネルギー分析
- 23p-N-11 Pyrolutic Graphite のイオン・チャネリング
- 22a-N-11ラング法によるp-irrad. LiFの観察
- 30p-P-11 a-Pd_Si_, a-SiO_2の中性子照射による構造変化
- 2a-E-11 KUR 4 軸型。中性子回折装置
- 2a-E-10 熱中性子非弾性散乱によるポリエチレンの振動数分布
- 7p-D-4 中性子トポグラフィの試み I
- 7p-D-2 ポリエチレン単結晶による熱中性子散乱
- 2a-TE-4 ポリエチレンの中性子非弾性散乱
- 3a-G-6 ポリオキシメチレン結晶の格子歪
- 1a-K-7 ポリエチレン結晶の格子歪
- 1a GK-5 銅合金 (ブリッジマン法) の中性子トポグラフィ観察 (その2)
- 31p-BF-3 中性子照射による非晶質 Pd_80Si_20 の構造変化
- 5a-P-6 X-nay diffuse scattering topography : G.P.帯の構造解析への応用
- 2p-TG-12 CaF_2の慍度因子の測定
- 9p-N-11 U_4O_9の超格子構造
- AuCu_3における線上散漫散乱II : X線・粒子線
- U_4O_9の超格子構造 : X線粒子線
- 3p-G-5 Au-Cu_3における線状散漫散乱と超格子反射
- 12p-H-7 U_4O_9の結晶構造
- 変調構造と非晶質構造 : ―異空間の中の結晶たち―
- 非晶質固体の“結晶学” : ―完全非晶質固体の模型―
- IV小角散乱と非晶質構造
- 合金ガラスFe78B12Si10, Ni78B12Si10の極小角中性子散乱
- 表面弾性波による中性子回折強度の変調
- 中性子極小角散乱
- Line profileのFouvier解析(特にgraphiteの(00,l)反射について) : X線電子線
- タイトル無し
- タイトル無し
- タイトル無し
- タイトル無し
- タイトル無し