バター破断面の低温度レプリカ法による電子顕微鏡的観察 : X. 電子線・X線

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 1959-03-31

著者

• 岡田 正和

  雪印科学研究所

• 岡田 正和

  雪印乳業東京研究所

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