α線用半導体検出器を用いた高分子薄膜の厚さ測定(その3) : 応用原子核放射線
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人日本物理学会の論文
- 1964-03-31
著者
関連論文
- 3p-F-1 スピングラスにおける2-および3-スピンクラスター理論
- 11p-M-7 反強磁性Crにおける磁性不純物効果
- 5p-KK-5 Spin Density Wave に対する不純物効果
- 1p-P-10 Excitonic Phase における超音波吸収
- α線用半導体検出器を用いた高分子薄膜の厚さ測定(その3) : 応用原子核放射線