27p-N-2 Scanning Tunneling Microscopy of Cleaved Semiconductor Surfaces

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 1987-09-16

著者

• Feenstra R.m.

  Ibm T.j. Watson Research Center

• Stroscio J.A.

  IBM T.J. Watson Research Center

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