400kV高分解能透過電子顕微鏡法によるSi(110)単結晶中の点欠陥の観察

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 1996-09-13

著者

• 淡路 晃弘

  金材技研

• 淡路 晃弘

  オックスフォード大、 金材技研

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