3B04 表示不良の原因解析 : 白点(白シミ)輝度むらの原因解析
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
Various kinds of display defects occasionally occur in liquid crystal displays (LCDs), producing uneven brightness. Such display defects cause significant problems on production. In this study, we have analyzed the display defect called white spot, using of FT-IR microscope and microsampling mass spectrometer. We cannot find any differences in bulk LC layer between abnormal part and normal part. But the composition ratios of the LC are different in the interface of LC/PI film, and much more polyol is detected at abnormal part than normal part in this interface.
- 日本液晶学会の論文
- 2000-10-23
著者
関連論文
- 2PA06 LCDセルの注入口クロマト現象の解析(分析的アプローチ) : 実セルでの注入口部表示不良の原因解析
- 2PA05 LCDセル周辺部電圧保持率低下の原因解析
- 3C05 LCDセル注入口部電圧保持率低下の原因解析
- 3G601 ラビングした液晶配向膜の分子配向挙動についての分光学的研究
- 有機EL膜の劣化機構の解析
- 3B04 表示不良の原因解析 : 白点(白シミ)輝度むらの原因解析
- 3B03 光のパネルに及ぼす影響 : レーザー照射によるパネル内の変化
- 赤外線による微小試料の分析 (赤外顕微鏡の応用)
- 表面状態の解析-26-多重内部反射赤外吸収法(MIR)によるシリコン表面の分析