エネルギー分散型 X 線回折法を用いた集合組織高速マッピング装置の開発(微小域構造解析)(<特集>最先端の化学分析と物理解析)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
Texture mapping apparatus with energy dispersive X-ray diffraction method has been newly developed. A collimated white X-ray beam in the diameter of 0.1 to 2.0 mmφ was irradiated to a sample in a fixed incidence and the energy spectrum of diffracted X-ray was measured by solid state detector. In this apparatus, fast data transfer system from multi-channel analyzer to computer was adopted to reduce the total measuring time. Sample was mounted on X-Y stage and moved successively to obtain the intensity mapping of diffraction peaks. Some examples are demonstrated in order to show the performance of this apparatus. It is suitable for the analysis of local inhomogeneities of texture, such as colonies of grains in polycrystalline materials.
- 社団法人日本鉄鋼協会の論文
- 1999-02-01
著者
関連論文
- 方向性電磁鋼板のレーザー照射による磁区細分化機構(X線材料強度)
- シンクロトロン放射光を用いたFe単結晶上へのZn電析物のその場構造解析
- 放射光利用 X 線回折法による亜鉛電析その場構造解析(微小域構造解析)(最先端の化学分析と物理解析)
- 創造科学技術推進事業
- 放射光イメージングプレートシステムを用いた高温反応の in situ 観察技術(微小域構造解析)(最先端の化学分析と物理解析)
- エネルギー分散型 X 線回折法を用いた集合組織高速マッピング装置の開発(微小域構造解析)(最先端の化学分析と物理解析)